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SEM-Raman 연동시스템

SEM-라만 시스템을 사용하면 단일 시스템으로 종합적인 현장 샘플의 특성을 규명할 수 있습니다. 이러한 두 가지 기술을 결합함으로써 편의성, 효율 및 생산성을 재정의합니다.

Renishaw의 구조 및 화학 분석 장치(SCA) 인터페이스는 스캐닝 전자 현미경(SEM)에서 inVia의 라만 지점 측정 및 매핑 기능을 사용할 수 있도록 지원합니다.

라만 + SEM

inVia와 SCA 인터페이스는 in-SEM 분석 기법을 제공하며, 두 가지 모두 광 현미경 기반 라만 분광법을 보완하고 기존 in-SEM 분석 기법인 에너지 분산형 X 선 분광법(EDS)의 한계를 극복합니다. Renishaw의 SEM-라만 시스템을 사용하면 동일 위치에서 형태학적, 원소적, 화학적, 물리적 및 전자적 분석의 장점을 모두 이용할 수 있습니다.

SEM을 사용하여 샘플의 고해상도 이미지를 생성하고 원소 분석을 수행하십시오. 라만의 강력함을 추가하고 화학 정보와 이미지를 확보하십시오. 재료와 비금속 물질을 식별하십시오(화학량론이 동일한 경우에도 가능).

SCA와 inVia는 라만뿐만 아니라 광발광(PL) 및 음극선 발광(CL) 분광법과도 완벽하게 호환됩니다.

동일 위치에서의 분석을 위한 하나의 연동형 시스템

하나의 연동형 시스템으로 귀중한 시간을 절약할 수 있습니다. 두 계기 사이에서 샘플을 옮길 필요가 없고 조사 지점이 아닌 샘플 영역을 분석할 위험도 없습니다.

inVia와 SEM 모두 성능 저하 없이 동시에 독립형 시스템으로 작동할 수 있습니다. 결국 라만 시스템과 SEM 시스템, 연동형 라만-SEM 시스템을 모두 보유하게 됩니다.

SEM-라만 이미징

SEM-SCA 옵티컬 in-SEM 매핑 단계를 사용하여 스트레스/스트레인의 공간적 변이를 판별하고 결함을 특성화할 수 있습니다. 이를 통해 복잡한 물질의 분자 및 결정 속성을 이미지로 나타낼 수 있습니다.

동일한 위치, 동일한 시간

데이터 신뢰성 보장; 이동하지 않고 샘플의 동일한 지점에서 라만 및 SEM 데이터를 동시에 구할 수 있습니다. 따라서 신속한 분석이 가능하고 데이터의 대표성이 높아집니다.

최상의 시스템 선택

Renishaw의 SCA 인터페이스는 기존 SEM에 추가할 수 있습니다. 포트에 장착되므로 어떤 방식으로든 SEM을 수정할 필요가 없습니다. SCA는 다음을 포함한 모든 주요 벤더의 SEM에 설치되었습니다.

  • Zeiss
  • Thermo Fisher Scientific(FEI)
  • TESCAN
  • JEOL
  • Hitachi

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다운로드: SEM-Raman 연동시스템

  • Product note:  Co-located SEM-Raman imaging system Product note: Co-located SEM-Raman imaging system [en]

    Renishaw’s SEM-Raman system provides truly co-located analysis Renishaw’s SEM-Raman system is unique. You can simultaneously acquire both SEM (scanning electron microscope) and Raman data from the same area on the sample. You do not have to transfer the sample to a different measurement location or instrument; this ensures rapid truly correlative analysis. You will avoid the sample registration issues that can occur when moving samples between measurement locations.

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  • Product note:  SCA - diamond composite analysis Product note: SCA - diamond composite analysis [en]

    Renishaw’s structural and chemical analyser unites two well-established technologies, scanning electron microscopy (SEM) and Raman spectroscopy, resulting in a powerful new technique which allows morphological, elemental, chemical, physical, and electronic analysis without moving the sample between instruments.

    [138kB]
  • Application note:  A study of single-wall carbon nanotubes using Renishaw's structural and chemical analyser for scanning electron microscopy Application note: A study of single-wall carbon nanotubes using Renishaw's structural and chemical analyser for scanning electron microscopy [en]

    Electron imaging and Raman spectroscopy are established techniques for viewing and analysing carbon nanotubes. Performing these two techniques usually requires the sample being transferred between a scanning electron microscope (SEM) and a Raman spectrometer. This application note illustrates the advantages of Renishaw’s structural and chemical analyser (SCA) for simultaneous secondary electron imaging and Raman spectroscopy of single-wall carbon nanotubes (SWNTs).

    [357kB]
  • Application note:  SCA oxidation application note - cultural heritage Application note: SCA oxidation application note - cultural heritage [en]

    SEM-SCA analysis helps in the preservation of a corroding bronze statue of the Roman god Ares from the ancient city of Zeugma in Turkey.

    [354kB]

최상의 시스템 선택

Renishaw의 SEM 전문가들에게 문의하면 고객별 요구사항에 맞게 상담해드립니다.

최신 SEM 사용자 스토리


지질학자들, Renishaw의 라만-in-SEM 솔루션을 사용하여 나노 세계 탐구

BRGM(프랑스 오를레앙의 French Geological Survey) 연구원들은 광물의 물리, 화학 및 구조적 속성을 연구합니다. 이 연구원들은 Renishaw의 동일 위치 SEM-라만 시스템을 사용하여 폭넓은 현장(in situ) 샘플 특성화(캐릭터리제이션)를 제공합니다.

스캐닝 전자 현미경(SEM)과 라만 현미경을 연동시켜 무기 및 미네랄 샘플을 연구하는 부쿠레슈티의 루마니아 지질 연구소

루마니아 지질 연구소에서는 Renishaw의 SCA(structural and chemical analyser) 인터페이스를 사용하여 inVia™ 컨포칼 라만 현미경의 라만 분석 기능을 동 연구소의 스캐닝 전자 현미경(SEM)에 적용하고 있습니다.