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싱크로스캔™

고객 맞춤형 범위와 해상도

싱크로스캔은 Renishaw에서 특허를 보유한 광범위한 스펙트럼 생성 기법입니다. 이러한 스펙트럼은 인공적 요소가 전혀 없으며 사용자가 선택하는 범위와 해상도로 수집할 수 있습니다.

기존 방식은 여러 개의 스펙트럼을 결합하여 광범위한 스펙트럼을 만드는 것이었습니다. 하지만 샘플의 형광 배경의 레이저 담금질로 인해 결합 과정에서 종종 불일치가 발생합니다.

반면에 싱크로스캔의 연속 스캐닝은 결합하는 과정 없이 매끄러운 스펙트럼을 생성합니다.

향상된 물체 식별 및 구별 성능

싱크로스캔을 사용하여 라만 스펙트럼의 일부가 아니라 전체에서 우수한 스펙트럼 분해능 데이터를 생성할 수 있기 때문에 더욱 간편하게 물질을 식별하고 비교할 수 있습니다.

매우 유사한 물질(예: 제약 다형체)을 분석할 때 특히 유용합니다.

광발광 측정

또한 수백 나노미터(수천 파동수)에 이르는 광범위한 광발광 스펙트럼에 싱크로스캔을 적용하여 너비에 관계없이 모든 PL 형체를 선명하게 확인할 수 있습니다.

  • Broadband spectrum of SiC Broadband spectrum of SiC [gen]

Renishaw의 다방면 혁신 기술은 특허권으로 보호됩니다.