News release: Identifying imperfections with Raman spectroscopy (pdf)
파일 크기: 2.25 MB
언어: English
An article in Compound Semiconductor magazine, October 2015, describes how Raman spectroscopy allows routine mapping of SiC wafers in little more than an hour.
이 파일 유형은 뷰어가 필요합니다. 뷰어는 다음 사이트에서 무료로 다운로드할 수 있습니다 Adobe
원하는 것을 찾지 못하셨습니까?
찾지 못한 것이 무엇인지 알려주시면최선을 다해 도와드리겠습니다